国际标准普遍采用X－射线荧光光谱分析，所用标准样品需采用高纯氧化物配制，配制程序复杂，对分析成分较多的氧化铝样品则严格按照国际标准化组织(ISO)、JB/T4281-1999标准和ISO5182-1999(E)国际标准规定，经过制样、混样、定值、均匀性实验、正态分布试验、稳定性考证、生产分析使用考核等复杂过程，符合X－射线荧光光谱分析的标准；均匀性和稳定性好，定值结果准确可靠。尤其是在样品合成过程中根据氧化铝比表面积较大，通过具有吸附性能的实际而采用的氧化铝吸附试验，才能达到国际标准。